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高低温探针卡

高低温探针卡

高、低温探针卡的测试环境苛刻,针卡局部温度变化大,DGT公司经过30多年的经验积累,解决了高、低温探针卡在晶圆测试中的形变、针尖水平度差异大的问题。

产品特点:

高、低温测试(-40--150℃)

ReW/OC材质

平整度高

多Sites同测


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